David Zorío Ventura

Universitat de València (UV)

Título: Métodos WENO optimizados para mallas no uniformes

Resumen: En este trabajo presentamos una variante del método WENO específicamente diseñada para operar de forma eficiente sobre stencils no uniformes. El método es aplicable independientemente de la posición relativa del punto en el que se realiza la interpolación, alcanza el orden máximo posible en presencia de discontinuidades y mantiene el orden óptimo en regiones suaves, incluso cuando existen puntos críticos de orden arbitrario. Asimismo, una simplificación en el diseño de los indicadores de suavidad, junto con una construcción recursiva de polinomios interpoladores de orden creciente, permite reducir el coste computacional a un comportamiento lineal con respecto al número de nodos.